Nov SDD EDS detektor

14.03.17

X Max Extreme

Nov  EDS detektor brez okna je  posebej zasnovan za zbiranje nizko-energijskih rentgenskih žarkov (<1 keV) in za delo s pogoji  za slikanje pri zelo nizki pospeševalni napetosti manj kot 3kV  (<3 kV) .

Pogoji z najnovejšimi FE-SEM el.mikroskopi  ponujajo nove možnosti za elementno analizo. Te možnosti vključujejo izboljšano prostorsko ločljivost za študij struktur vse  do 10 nm ali manj, karakterizacijo površinskih detaljev debeline samo 1-2nm ,  analizo materialov občutljivih na elektronski žarek ali analizo  izolacijskih materialov, veliko nižje meje zaznavnosti za lahke elemente, kot  so dušik in bor, kot tudi, prvič do sedaj , odkrivanje litija z EDS spektrometrom. Vse to ponuja pomemben preboj s potencialom za podrobnejšo analizo nano-materialov, baterijskih materialov, bio-materialov in polprevodnikov v vrstičnem elektronskem mikroskopu - SEM.

Oglasi:

JEOL
Pfeiffer vacuum
Oxford Instruments
RMC
Labogene
AIR Liquide / Cryopal
SPI
VAT AG
HSR AG