Arhiv objav
- 19.01.15Povezave na spletna mesta Pfeiffer Vacuum
- 03.11.14Piezo-Pirani vakuumski merilnik
- 18.09.14Vakuum v prehrambeni industriji
- 18.09.14Vakuumski sistemi
- 25.08.14Roots črpalka, ki ne potrebuje predčrpalke!
- 30.05.14Vakuumske komore
- 11.04.14JSM 6010LA InTouch scope
- 04.04.14Najboljši katalog tehničnih proizvodov
- 17.03.14Pfeifferjevi nasveti meseca
- 01.01.14Koledar 2014
- 01.01.13Koledar 2013
- 01.01.12Koledar 2012
in-situ TEM članek
25.02.21
V reviji Microscopy TODAY ( Mikroskopija Danes) je bil objavljen članek »Raziskovanje povezanih ekstremnih okolij s pomočjo in -situ presevne elektronske mikroskopije« ( »Exploring Coupled Extreme Environments via In-situ Transmission Electron Microscopy«)
Članek je bil narejen s pomočjo mikroskopa JEM-2100 Ultrafast TEM in so ga pripravili v Sandia National Laboratory. Več informacij na povezavi: