in-situ TEM članek

25.02.21

V reviji Microscopy TODAY ( Mikroskopija Danes)  je bil objavljen članek »Raziskovanje povezanih ekstremnih okolij s pomočjo in -situ presevne elektronske mikroskopije«  ( »Exploring Coupled Extreme Environments via In-situ Transmission Electron Microscopy«)

Članek je bil narejen s pomočjo mikroskopa  JEM-2100 Ultrafast TEM in so ga pripravili v Sandia National Laboratory. Več informacij na povezavi:

https://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20210225.4722.html

Oglasi:

JEOL
Pfeiffer vacuum
Oxford Instruments
RMC
AIR Liquide / Cryopal
SPI
VAT AG
HSR AG